产品介绍

平面CT专业用于检测和分析板状结构器件内部质量与结构情况，适用于PCB、BGA、SMT，集成芯片等器件和加工工艺的质量评定和分析。重构出扫描三维断层图像，实现对板状器件缺陷的空间定位，以及逆向生成电路板CAD设计。

检测对象

印刷电路板、电子与机械、模块、机电、组件和插头，半导体封装与互连、微系统、传感器、执行器、MEMS和MOEMS。

主要参数

●管电压：160kV或225kV

●管类型：开放式微焦点射线管

●发射方式：透射式

●靶材：钨靶

●JIMA分辨率：最 佳可达0.5μm

●扫描方式：平面扫描

●探测器：数字平板探测器